Fast analysis

of transparent and partially absorbing films with a thickness range of <10 nm - 250 μm.

Extraction

of thickness, optical properties n & k, and other layer parameters.

Simulation

and measurement of multilayer systems (weakly absorbing or transparent).

KaPaTek

Kapatek ist ein Hersteller von optischen Schichtdicken Meßsystemen basierend auf dem Meßprinzip der spektroskopischen Reflektometrie.
Seit mehr als 20 Jahren beschäftigen wir uns mit optischen Meßsystemen zur Schtdickenmessung von optisch transparenten und semitransparenten Schichten und bieten unseren Kunden Komplettlösungen für die Qualitätskontrolle im F&E Bereich und in der Produktion.
Die spektroskopische Reflektometrie ist ein sehr schnelles, nichtzerstörendes und hoch präzises Meßverfahren, geeignet für Ex- und Insitu Anwendungen.

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NanoCalc Products

NanoCalc VIS Aufbau

NanoCalc VIS Aufbau

USB2000+ VIS Spektrometer, NanoCalc 5.0 Software, HL-2000-FHSA Lichtquelle, Faser, Stativ, Kalibrier Wafer(Step-Wafer)

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NanoCalc XR Aufbau

NanoCalc XR Aufbau

USB2000+ XR Spektrometer, NanoCalc 5.0 Software, DH-2000-BAL Lichtquelle, Faser, Stativ, Kalibrier Wafer(Step-Wafer)

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NanoCalc NIR Aufbau

NanoCalc NIR Aufbau

NIR-Quest Spektrometer, NanoCalc 5.0 Software, HL-2000-FHSA Lichtquelle, Faser, Stativ, Kalibrier Wafer(Step-Wafer)

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NanoCalc DUV Aufbau

NanoCalc DUV Aufbau

Maya-Pro Spektrometer, NanoCalc 5.0 Software, HL-2000-FHSA Lichtquelle, Faser, Stativ, Kalibrier Wafer(Step-Wafer)

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NanoCalc KOMBI XR-NIR Aufbau

NanoCalc KOMBI XR-NIR Aufbau

STS Spektrometer, NanoCalc 5.0 Software, LED- Lichtquelle, Faser, Stativ, Kalibrier Wafer(Step-Wafer)

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NanoCalc STS(VIS/UV/NIR) Aufbau

NanoCalc STS(VIS/UV/NIR) Aufbau

Doppelspektrometer: USB2000+XR u.NIR-Quest Spektrometer, NanoCalc 5.0 Software, DH-2000-BAL Lichtquelle, Faser, Stativ, Kalibrier Wafer(Step-Wafer)

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