NanoCalc Reflektometer Software

Die NanoCalc Reflektometer Software läuft für Ocean Insight Spektrometer wie: Flame-T/S oder USB2000 +, NIRQUEST+1.7-2.5, MayaPro, STS und andere aktuelle Ocean Insight Spetrometer.

Zusammen mit diesen Spektrometern, einem optischen Lichtwellenleiter(Faser), einer OceanOptics-Lichtquelle und der NanoCalc 5.0-Software können wir ein voll funktionsfähiges Dünnschicht-Messsystem bereitstellen.

NanoCalc 5.0 ist die neue Software zur Messung von Dicke und N & K für die Reflektometrie und bietet Funktionen für:

  • Schnelle Analyse transparenter und teilweise absorbierender Filme mit einem Dickenbereich von <10 nm - 250 μm.
  • Extraktion der Dicke, der optischen Eigenschaften n & k und anderer Schichtparameter.
  • Simulation und Messung von Mehrschichtsystemen für transparente und semitransparente Schichten.
  • Verbesserte Benutzeroberfläche mit neuen Grafiken und schneller Rezeptauswahl für die Labor- und Produktionsumgebung.
  • Analyse von mehrschichtigen Filmstapeln mit bis zu 10 Schichten, einschließlich einer dicken Schicht.
  • Verwendung von Referenzsystemen.
  • Automatisierte Schichtdickenbestimmung auf Substraten mit einem Durchmesser von bis zu 300 mm mit 2D- und 3D-Grafikanalyse.
  • Online-Prozesssteuerung mit Mehrpunktmessfunktion.
  • Fernbedienung über OLE-Befehle von externer Software.
  • FFT-Analysemethode.
  • Hardware-Setup des Reflektometers: OO-Spektrometer, Faser, Lichtquelle, Probenhalter, Stufenwafer.

NanoCalc Software Video Tutorials

Basic features of NanoCalc

Edit Structure of NanoCalc 4

FFT - Tutorial for NanoCalc 4

User Interface tutorial for NanoCalc 4